Системы испытаний полупроводников
(5)
Системы испытаний полупроводников для лазерного старения LDBI Система многоканального испытания
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:Laser Aging Semiconductor Test Systems, LDBI Semiconductor Test Systems, Multi Channel Power Device Analyzer
LDBI Laser Aging Semiconductor Test Systems Multi Channel Testing System LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and ag... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
1200V/100A Анализатор параметров полупроводников SPA6100 Системы испытаний полупроводников
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:1200V/100A Semiconductor Parameter Analyzer, SPA6100 Semiconductor Test Systems, SPA6100 Semiconductor Parameter Analyzer
1200V/100A Semiconductor Parameter Analyzer SPA6100 Semiconductor Test Systems The SPA6100 Semiconductor Parameter Analyzer offers advantages including high precision, wide measurement range, rapid flexibility, and strong compatibility. This product supports simultaneous testing of DC current-voltag... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
10 кВ/6000А Анализатор силового устройства статический тест PMST для Мосфета BJT IGBT SiC GaN полупроводники
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:10kV/6000A Power Device Analyzer, Analyzer Static Test PMST, BJT IGBT Power Device Analyzer
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test PMST For MOSFET BJT IGBT And SiC GaN Semiconductors PMST Static Parameter Test System for Power Devices integrates multiple measurement and analysis functions, enabling precise testing of static parameters for various power devices (e.g., MOSFETs, BJTs, I... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
Система испытаний C-V на полупроводниковых устройствах 10 Hz-1 MHz
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:1MHz Semiconductor Power Device, 10Hz Semiconductor Power Device, C-V Semiconductor Characterization System
10Hz-1MHz Semiconductor Device C-V Testing System Capacitance-Voltage (C-V) Measurement is widely used to characterize semiconductor parameters, particularly in MOS capacitors (MOS CAPs) and MOSFET structures. The capacitance of a metal-oxide-semiconductor (MOS) structure is a function of the applie... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт
1000A Система испытаний датчиков тока CTMS Средства испытания полупроводников
Цена: Negotiable
MOQ: 1 unit
Срок поставки: 2-8 weeks
Бренд: PRECISE INSTRUMENT
Выделять:1000A Current Sensor Test System, CTMS Semiconductor Testing Equipment, 1000A CTMS Semiconductor Testing
1000A Current Sensor Test System CTMS Semiconductor Testing Equipment CTMS test system integrates a variety of measurement and analysis functions, and can accurately measure the static and dynamic parameters of various current sensors (Hall current sensors, Rogowski coils, Pilsner coils, etc.), with... Посмотреть больше
➤ Посещать Интернет сайт